BLASE X 超微細氣泡量測裝置 看不見的氣泡， 化為數字。

透過粒子追蹤解析，在短時間內量測 100 nm 附近超微細氣泡的數量濃度與粒徑——從低濃度到高濃度。

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※「Fine Bubble」「Ultrafine Bubble」為一般社團法人 Fine Bubble 產業會的註冊商標。

BLASE 系列的高階機型。 採用粒子追蹤軟體解析，從約 10 萬個（105）的低濃度到約 10 億個（109）的高濃度1，在短時間內量測超微細氣泡。

1 可量測的濃度範圍因水質條件而異。

課題

雷射看得見，
卻數不清。

超微細氣泡可用雷射觀測。但雷射的輸出與波長不同，看到的樣子也不同。

  • 觀測結果隨條件改變

    輸出或波長不同，同一樣品看起來也不一樣。裝置之間、條件之間的比較流於主觀。

  • 低濃度不穩定

    樣品越稀薄，進入視野的粒子越少。狹窄的視野內，數量濃度難以穩定。

  • 高濃度費工夫

    濃樣品通常需要稀釋後再量測。步驟越多，數值背後的假設也越多。

BLASE X 以廣視野捕捉，透過追蹤粒子來計數。 從低濃度到高濃度，短時間完成。

特點

廣泛捕捉、追蹤、計數。

將獨家的影像處理系統和雷射系統，與粒子追蹤軟體解析相結合。

粒子追蹤軟體解析（PTA 法）

逐一追蹤拍攝到的粒子，求得粒徑與個數。超微細氣泡量測由 Fine Bubble 產業會（FBIA 規格）審查量測步驟與機型並加以規定。

  • 基於逐粒追蹤計算粒徑
  • 即時顯示數量濃度與粒徑
  • 從低濃度到高濃度採用同一方式
粒子追蹤解析示意圖 在暗視野中以散射光捕捉到的粒子被逐一追蹤，並標註軌跡與粒徑。 LIVE FRAME 00412 SCALE 10 µm ID 0412 · 118 nm ID 0397 · 131 nm ID 0421 · 104 nm ID 0408 · 112 nm
粒子追蹤解析示意（模式圖）

從低濃度到高濃度

從約 10 萬個（105）到約 10 億個（109）1。透過廣視野影像處理與獨家的控制處理，稀薄樣品也可在短時間內量測。

  • 量測濃度 105 起可測1
  • 廣視野影像處理對應低濃度
  • 短時間內完成粒子追蹤與粒徑解析
BLASE X 的量測濃度範圍（對數座標示意圖） 104 105 106 107 108 109 1010 數量濃度［個］・對數座標 BLASE X 低濃度 高濃度 短時間量測
量測濃度範圍的定位（模式圖）

廣視野・短時間・即時

採用可在廣視野內短時間捕捉超微細氣泡的系統，實現穩定量測。肉眼看不見的氣泡，也可即時監測。

  • 獨家開發的影像處理系統與雷射系統
  • 即時監測與量測
  • 針對目標介質提供最合適的量測方法
量測系統構成 雷射照射樣品槽，廣視野相機拍攝散射光，粒子追蹤解析即時輸出數量濃度與粒徑。 雷射 CLASS 1 樣品槽 廣視野 相機 拍攝 粒子追蹤解析 → 數量濃度・粒徑 REAL TIME 照射 散射光
量測系統構成（模式圖）

1 可量測的濃度範圍因水質條件而異。

選配

從樣品槽到解析軟體，
依用途配置。

備有各種選配件與耗材，也可依用途提出方案。

  • 流通槽

    一邊流入液體樣品一邊量測。無需依樣品更換槽體，透過注射器等吸引方式可對同一樣品重複量測。

  • 樣品槽套組專利第 7828128 號

    窗板、槽座、樣品槽一整套。預先準備多套，可提高多檢體連續量測的通量。

  • 樣品槽

    石英槽表面鍍鉑。抑制來自下方的反射，減少不必要的散射與雜訊。

  • 槽座

    固定樣品槽與窗板的基座。

  • 窗板

    置於槽體上方的透明基板。液體在界面穩定鋪展，使量測區域均一，提高再現性。

  • PDF 解析應用程式

    從量測結果 PDF 進行數量濃度的 CSV 彙整、不同 PDF 的比較顯示、圖表重繪等。

  • PSL 標準粒子107 / 108

    用於 BLASE 系列的校正。散射亮度、粒子特性、數量濃度均近似 UFB，可實現高精度校正。

  • 視野範圍變更

    依粒子量變更光學倍率，按客戶需求提供視野範圍方案。

影片

請透過影片，
了解量測方法。

講解 BLASE 系列超微細氣泡量測方法的影片。

【BLASE Series】ウルトラファインバブル計測方法

※ 播放後將連線至 YouTube。

主要規格

BLASE X

本產品為一類雷射產品，採用雷射不外洩的安全設計。

BLASE X 本體。前面板配置 EMS・POWER・MONI①②・PW Adj，側面配置 FOCUS・X LOCK・UNLOCK BUTTON・SLIDE LOCK。
BLASE X 主機（右側視角）
量測對象超微細氣泡（液體中的微細氣泡）
量測粒徑約 100 nm
數量濃度約 10 萬個（105）～約 10 億個（109） ※因水質條件而異
量測方式粒子追蹤軟體解析（PTA 法）。獨家開發的影像處理系統與雷射系統
顯示即時監測、粒徑・數量濃度
視野範圍依粒子量變更光學倍率（請洽詢）
樣品槽流通槽、樣品槽套組（窗板・槽座・樣品槽）— 選配
校正PSL 標準粒子（107 或 108）
安全規格一類雷射產品（雷射不外洩的安全設計）
外形尺寸・質量請洽詢
電源請洽詢
量測時間・樣品量請洽詢
設計・製造日本國內

※ 請勿解除安全機構或拆解、改造裝置。規格可能因改良而未經預告變更。

系列比較

超微細氣泡量測，
就選 BLASE X。

BLASE Series 共 4 款機型。微氣泡領域由 BLASE MICRO 涵蓋。

查看系列一覽 →
機型 量測對象 量測方式 主要用途
BLASE X本頁 超微細氣泡 粒子追蹤軟體解析
（PTA 法）		 從低濃度到高濃度均可短時間量測，研究開發
BLASE 超微細氣泡 粒子解析軟體 低濃度短時間量測，
高濃度稀釋後量測
BLASE MINI 超微細氣泡 廣視野光學系統＋
專用應用程式		 簡易量測、作為線上裝置的方案
BLASE MICRO 微氣泡
5–450 µm		 基於獨家影像處理的
氣泡形狀偵測		 研究開發、產生裝置評估、
線上即時觀測

  • FBIA 正式登錄試驗實驗室

    2025 年 7 月 31 日，經 Fine Bubble 產業會認定，正式登錄為超微細氣泡量測的試驗實驗室。

  • 一類雷射產品

    採用雷射不外洩的安全設計，在通常使用狀態下可安全使用。

  • 於日本國內設計・製造

    從設計到製造均在日本國內完成。導入後的運用亦歡迎洽詢。

  • 電氣・機械・軟體一體化

    由自主完成控制設計、機械設計與軟體開發的 SCHWALBEL 開發。

導入流程

從洽詢到交付，
4 個步驟。

歡迎隨時與我們聯繫。將由專業人員免費提供建議。

  1. 索取資料・洽詢

    請透過洽詢表單或電話（+81 3-6304-0333）與我們聯繫。將由專業人員免費提供建議。

  2. 需求確認・事前調查

    了解您的目的、用途與交期等要求，並視情況實施事前調查，判斷所需檢測是否可行。

  3. 報價・簽約

    依您的需求提交需求定義書及報價單。

  4. 量測・交付

    交付設備，並在客戶在場的情況下進行功能評估，完成驗收。

※ 事前調查需要多個評估樣品，視內容可能另行收費。

常見問題

FAQ

BLASE 與 BLASE X 有何不同？

量測方式不同。BLASE 以粒子解析軟體在短時間內量測低濃度，高濃度需稀釋後量測。BLASE X 採用粒子追蹤軟體解析（PTA 法），從低濃度到高濃度均可在短時間內量測。

可以量測到多高的濃度？

可量測約 10 萬個（105）到約 10 億個（109）的超微細氣泡。範圍因水質條件而異，請告知樣品資訊。

也可以量測微氣泡嗎？

BLASE X 是面向 100 nm 附近超微細氣泡的機型。微氣泡（約 5–450 µm）請考慮 BLASE MICRO。

可以先只委託量測嗎？

我們提供量測服務。作為 Fine Bubble 產業會正式登錄的試驗實驗室，可在導入裝置前先從樣品評估開始。

有哪些樣品槽與耗材？

備有流通槽、樣品槽套組、樣品槽、槽座、窗板、PDF 解析應用程式、PSL 標準粒子等。將依用途提出方案。

可以導入海外據點嗎？

能否對應因目的地與規格而異。請透過洽詢表單告知安裝國家與用途。

洽詢

歡迎隨時與我們聯繫。

若能告知希望量測的對象、預估濃度與安裝環境，我們將為您推薦最合適的機型與配置。

電話洽詢

03-6304-0333

SCHWALBEL 株式會社 ／ 平日 9:00–18:00（日本時間，週末及假日除外）

洽詢事項

請一併告知希望量測的對象、預估的粒徑與濃度、安裝環境等。

您所填寫的個人資料，僅用於回覆洽詢及相關聯絡。詳情請參閱隱私權政策。

通常將於 2 個工作日內由負責人與您聯繫。

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